安森美半导体的硅光电倍增管 (SiPM) 直接飞行时间 (dToF) 激光雷达平台为工业测距应用提供现成的设计
2020-11-10 13:12
该平台展示使用安森美半导体硅光电倍增管 (SiPM) 传感器专知的直接飞行时间激光雷达
2020年11月10日 — 推动高能效创新的安森美半导体 (ON Semiconductor，美国纳斯达克上市代号：ON)，推出了由该公司硅光电倍增管 (SiPM) 技术实现的单点直接飞行时间 (dToF) 的激光雷达方案。
光检测和测距或激光雷达的应用在所有领域都在增长，包括机器人和强制要求毫米范围精度的工业接近感知。它通常基于 dToF 方法，测量通常在近红外 (NIR) 波长范围内的一个光脉冲往返于一个物体所需的时间。
尽管原理很简单，但其应用可能会带来挑战性，例如周围太阳光较强等环境因素。为了准确确定范围，接收器需要捕获尽可能多的信号。就响应时间和灵敏度而言，传统的光电二极管在这方面会受到影响。安森美半导体开发的硅光电倍增管 (SiPM) 传感器提供更快的响应时间和高检测效率，克服了这些不足。该参考平台使用安森美半导体第二代 SiPM 传感器RB 系列，在红色和 NIR 范围都带来更高的性能。
安森美半导体开发的 SiPM dToF 激光雷达平台提供低成本、单点激光雷达的完整方案，原始设备制造商 (OEM) 可灵活调整并投入生产，以创建工业测距应用。它包括 NIR 激光二极管、SiPM 传感器和光学器件，以及将检测到的信号转换为经过时间，以及将经过时间转换为距离所需的数字处理。
为加快客户的上市时间，安森美半导体提供该参考平台的所有设计数据，涵盖原理图、物料单 (BoM) 、gerber 文件和 PCB 设计文件。客户还可以访问基于 PC 的图形用户接口(GUI)，提供随时间变化的测量结果的图形。生成的直方图进一步证明该系统在测距、碰撞检测和3D制图等应用的能力。
安森美半导体物联网主管 Wiren Perera 说：“使用 dToF 激光雷达进行测距，满足了许多应用的关键需求，从自主导航到地图绘制到监控。但是，开发基于 dToF 激光雷达的系统可能具有挑战性。我司的这个平台显然证实这领先技术的效用。有了经验证的设计，客户就能更快地进行概念验证，并迅速将产品推向市场。”
SiPM dToF 激光雷达平台可检测10厘米至23米距离的物体。使用提供的 GUI 提供开箱即用的体验，使工程师可以立即开始评估该技术。该设计已获得美国食品和药物管理局 (FDA) 一类认证，并符合 IEC / EN 60825-1:2014 和 21 CFR 1040.10 / 1040.11 激光安全标准。
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